PPID：等离子体过程诱导损伤国际研讨会

“International Symposium on Plasma Process-Induced Damage”这一国际学术会议名称，在半导体和微电子工艺研究领域具有重要影响力。为方便书写与交流，业界通常将其缩写为PPID。该会议旨在探讨等离子体工艺过程中可能引发的材料损伤问题，其中文全称为“等离子体过程诱导损伤国际研讨会”，是相关科研人员交流最新技术进展的重要平台。

International Symposium on Plasma Process-Induced Damage具体释义

  • 英文缩写：PPID
  • 英语全称：International Symposium on Plasma Process-Induced Damage
  • 中文意思：等离子体过程诱导损伤国际研讨会
  • 中文拼音：děng lí zǐ tǐ guò chéng yòu dǎo sǔn shāng guó jì yán tǎo huì
  • 相关领域： ppid 会议

International Symposium on Plasma Process-Induced Damage的英文发音

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