EELS:电子能量损失谱
电子能量损失谱(英文全称为Electron Energy Loss Spectroscopy,常缩写为EELS)是电子显微学和材料科学中一种重要的分析技术。该方法通过测量电子束与样品相互作用后的能量损失,可以获得样品的成分、化学状态及电子结构等信息。由于专业术语较长,在学术交流中常使用缩写EELS以方便书写和引用。
Electron Energy Loss Spectroscopy具体释义
Electron Energy Loss Spectroscopy的英文发音
例句
- Electron energy loss spectroscopy
- 电子能量损失能谱法
- The nanowires were analyzed by X-ray diffraction, high resolution electron microscopy ( HREM ), electron energy loss spectroscopy.
- 应用X射线衍射仪、高分辨电子显微镜和电子能量损失谱(EELS)分析了纳米线的微观结构。
- Electron energy loss spectroscopy ( EELS ) of uranium and its oxidation processes were studied by Auger electron spectroscopy.
- 利用俄歇电子能谱仪获取了表面清洁的铀及其在氧化过程中的电子能量损失谱(EELS)(EELS),研究这些电子能量损失谱(EELS)线显示:清洁表面铀的等离子损失的实验值与理论值较为符合;
- High resolution electron energy loss spectroscopy ( HREELS ) and ultraviolet photoelectron spectroscopy ( UPS ) are utilized to study the electronic structure for freshly etched porous silicon.
- 使用高分辨电子能量损失谱(EELS)(HREELS)和紫外光电子能谱(UPS)研究了新腐蚀的多孔硅(PS)样品的电子结构。
- And the use of experimental instruments and X ray diffraction ( XRD ), scanning electron microscopy ( SEM ) on experimental results of characterization, and the electron energy loss spectroscopy.
- 并利用实验仪器X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对实验结果进行表征,根据电子能量损失谱(EELS)得到实验数据。
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