SEU：单一事件扰乱

“单粒子翻转”（Single Event Upset，简称SEU）是物理学及电子工程等领域中的常用术语，指高能带电粒子撞击集成电路时引发的瞬时数据错误。该现象在空间辐射环境或高能物理实验中较为常见。使用缩写SEU既便于学术交流与文献撰写，也有助于提升专业表述的简洁性和规范性。

Single Event Upset具体释义

  • 英文缩写：SEU
  • 英语全称：Single Event Upset
  • 中文意思：单一事件扰乱
  • 中文拼音：dān yī shì jiàn rǎo luàn
  • 相关领域： seu 物理学

Single Event Upset的英文发音

例句

  1. The incident angle dependences of the cross sections for single event upset and single event latchup are presented.
  2. 获得了单粒子翻转和单粒子闭锁截面与入射角度的依赖关系。
  3. Single event upset rate analysis of SRAM / MOS equipments in satellite optical communication system
  4. 卫星光通信系统中SRAM/MOS器件的单粒子翻转率分析
  5. Single event upset ( SEU ) induced by cosmic ray in electronic devices seriously imperils the safety of spacecraft.
  6. 单粒子翻转对应用在航天领域的电子设备的可靠性具有重大的影响。
  7. Design of an Improved Single Event Upset(SEU) Tolerant Sequential Circuits
  8. 一种改进型时序电路单粒子效应容错设计
  9. Expermental methods were emphatically described for measuring the proton Single Event Upset(SEU) ( SEU ) cross section in Static Random Access Memories ( SRAMs ).
  10. 描述了测量静态随机存取存储器质子单粒子翻转截面的实验方法。

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