FIB：聚焦离子束

聚焦离子束技术，在学术研究与电子科技领域被广泛称为FIB，是其英文全称“Focused Ion Beam”的首字母缩写。这一简称便于日常书写和交流，有效提升了专业术语的使用效率。聚焦离子束作为一种精密的微纳加工与分析工具，在半导体检测、材料科学及纳米技术中具有重要应用价值。

Focused Ion Beam具体释义

  • 英文缩写：FIB
  • 英语全称：Focused Ion Beam
  • 中文意思：聚焦离子束
  • 中文拼音：jù jiāo lí zǐ shù
  • 相关领域： fib 电子

Focused Ion Beam的英文发音

例句

  1. In this paper, Development of liquid metal ion source for nanometer focused ion beam system is introduced.
  2. 叙述了为纳米聚焦离子束(FIB)装置研制的镓液态金属离子源的制备。
  3. Study on Micro-tools Fabrication by Focused Ion Beam(FIB) Technology and Key Techniques
  4. 基于聚焦离子束(FIB)技术的微刀具制造方法及关键技术的研究
  5. Applications of focused ion beam in optical fiber probe fabrication
  6. 聚焦离子束(FIB)在光纤探针制备技术中的应用
  7. We report a nano-precise fabrication of various designs of photonic crystals in these non-conventional materials using the focused ion beam milling technique.
  8. 本文报道了在这种非传统材料中用聚焦离子束(FIB)加工技术实现的多种纳米精度光子晶体结构。
  9. Fabrication of micro / nano structures using focused ion beam implantation technology
  10. 基于聚焦离子束(FIB)注入的微纳加工技术研究

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