DUT：被测设备

“被测设备”（Device Under Test，简称DUT）是在电子工程及相关科研领域中广泛使用的术语，通常被缩写为DUT，以便在技术文档、实验报告或专业讨论中更高效地记录和表达。该术语特指在测试或验证过程中所针对的设备或系统，有助于简化技术交流并提升专业沟通的准确性。

Device Under Test具体释义

  • 英文缩写：DUT
  • 英语全称：Device Under Test
  • 中文意思：被测设备
  • 中文拼音：bèi cè shè bèi
  • 相关领域： dut 电子

Device Under Test的英文发音

例句

  1. The intelligent interface isolates the test signals provided by DUT ( device under test ) successfully.
  2. 智能接口成功地解决了对测试对象提供的检测信号的相互隔离；
  3. Request the contents of Modbus registers on the device under test through standard Modbus commands.
  4. 通过标准的Modbus命令请求测试设备上的Modbus寄存器的内容。
  5. Set the serial port connecting the host to the device under test.
  6. 将连接主机的串口设置为接受测试的设备。
  7. The offset voltage will cause an error in the applied stimulus to a device under test or the value measured by the voltmeter.
  8. 偏移电压会导致施加到被测装置的激励发生误差，或者使伏特计的测量值发生误差。
  9. If high voltage is used, current limiting resistors are needed to avoid damage to the current switches in case the device under test breaks down.
  10. 如果使用高压，则需要利用限流电阻，以免被测装置击穿后损坏电流开关。

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