SFM：扫描力显微镜

“扫描力显微镜”（Scanning Force Microscopy，简称SFM）是一种在电子、材料等科学领域广泛使用的先进显微技术。为了方便书写和交流，其英文名称常缩写为SFM。该技术能够以纳米级分辨率探测样品表面的物理性质，是科研和工业检测中的重要工具。

Scanning Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写：SFM
  • 英语全称：Scanning Force Microscopy
  • 中文意思：扫描力显微镜
  • 中文拼音：sǎo miáo lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： sfm 电子

Scanning Force Microscopy的英文发音

例句

  1. In this thesis, Scanning Force Microscopy(SFM) ( SFM ) was used to study the nanoscale electric phenomena of the surface and interface properties of ferroelectric thin films.
  2. 本论文利用扫描力显微镜(SFM)研究了铁电薄膜表面与界面的电势及电畴等微区性质。
  3. Study on nano-meter scale observation of latent tracks induced by ions are discussed using scanning tunneling microscopy ( STM ) and scanning force microscopy ( SFM ).
  4. 综述了近年来用扫描隧道显微镜（STM）和扫描力显微镜(SFM)（SFM）在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展。
  5. Latent ion track contrast of scanning force microscopy
  6. 扫描力显微镜(SFM)图象中离子潜径迹的表现形式
  7. New Developments of Scanning Force Microscopy(SFM)
  8. 扫描力显微镜(SFM)研究进展
  9. Glass-to-rubber transition of polymer film analyzed by scanning force microscopy
  10. 扫描力显微术在高聚物薄膜玻璃化转变研究中的应用

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