DFTVS:超大规模集成(VLSI)系统缺陷与容错国际研讨会
“IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems”是该学术会议的全称,其标准缩写为DFTVS,便于书写和学术交流。该会议聚焦于超大规模集成系统的缺陷分析与容错技术,是集成电路可靠性领域的重要国际研讨会,在学术界和工业界具有广泛影响力。其中文译名为“超大规模集成(VLSI)系统缺陷与容错国际研讨会”。
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI (Very-Large-Scale Integration) Systems具体释义
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI (Very-Large-Scale Integration) Systems的英文发音
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