ELL：椭圆测量（表面分析）

椭圆测量法（Ellipsometry）是一种重要的表面分析技术，广泛用于材料科学、物理和化学等领域，用以精确测量薄膜厚度与光学性质。该术语在学术和工程文献中常被缩写为“ELL”，以便简化书写与交流。其英文全称强调对样品表面椭圆偏振光变化的研究，而中文译名“椭圆测量（表面分析）”则清晰体现了该方法的核心应用方向。

Ellipsometry (surface analysis)具体释义

  • 英文缩写：ELL
  • 英语全称：Ellipsometry (surface analysis)
  • 中文意思：椭圆测量（表面分析）
  • 中文拼音：tuǒ yuán cè liáng biǎo miàn fēn xī
  • 相关领域： ell 数学

Ellipsometry (surface analysis)的英文发音

例句

  1. Spectroscopic ellipsometry ( SE ) is an optical technology which study on the surface, interface and thin film analysis.
  2. 椭偏测量技术（SE）是一种研究表面、界面和薄膜分析的光学技术。

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