STPG:可扩展测试模式生成
“Scalable Test Pattern Generation”通常缩写为STPG,这一简称便于快速书写和日常使用,在电路综合与测试领域应用广泛。其核心含义是指“可扩展测试模式生成”,旨在高效生成适用于大规模集成电路的测试向量,属于测试自动化技术的重要分支。
Scalable test pattern generation具体释义
Scalable test pattern generation的英文发音
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