PMI：相位测量干涉仪

相位测量干涉仪是一种广泛应用于电子和光学领域的精密测量仪器，它能够通过分析光波相位的细微变化来评估光学表面的形貌和光学元件的质量。该仪器的英文全称为“Phase Measuring Interferometer”，在日常使用与学术文献中常缩写为PMI，便于快速记录和高效交流。

Phase Measuring Interferometer具体释义

  • 英文缩写：PMI
  • 英语全称：Phase Measuring Interferometer
  • 中文意思：相位测量干涉仪
  • 中文拼音：xiàng wèi cè liáng gān shè yí
  • 相关领域： pmi 电子

Phase Measuring Interferometer的英文发音

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