SNOM：扫描近场光学显微镜

扫描近场光学显微镜（Scanning Nearfield Optical Microscopy，简称SNOM）是一种重要的高分辨率光学成像技术，常见于物理、材料科学及电子工程等学术领域。该缩写不仅便于书写和学术交流，也广泛应用于各类光学测量与微观分析场景中，用于观察样品在纳米尺度下的光学性质。

Scanning Nearfield Optical Microscopy具体释义

  • 英文缩写：SNOM
  • 英语全称：Scanning Nearfield Optical Microscopy
  • 中文意思：扫描近场光学显微镜
  • 中文拼音：sǎo miáo jìn chǎng guāng xué xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： snom 电子

Scanning Nearfield Optical Microscopy的英文发音

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