AFM:原子力显微镜
“原子力显微镜”(Atomic Force Microscopy,简称AFM)是一种在物理学及相关学术科学领域中广泛使用的高精度检测工具。其英文名称常缩写为AFM,便于日常书写和科研交流,不仅提升了表达效率,也促进了专业信息的快速传播。作为一种先进的显微技术,它能够以纳米级分辨率观测样品表面形貌,在材料科学、生物学等多个研究领域发挥着重要作用。
Atomic Force Microscopy具体释义
Atomic Force Microscopy的英文发音
例句
- Single ACF I molecules have been successfully imaged by atomic force microscopy.
- 用原子力显微镜(AFM)对ACFI的分子形貌进行了直接观察。
- Atomic Force Microscopy(AFM) ( AFM ) is a main instrument for nano-scale measurement and manipulation.
- 原子力显微镜(AFM)(AFM)是进行纳米测量和操作的一种主要工具。
- Chitosan Complexed Films Investigated by Atomic Force Microscopy(AFM) ( AFM ); The structure and morphology of prepared materials were detected by scanning electron microscope.
- 壳聚糖复合膜的制备及表面形貌的原子力显微镜(AFM)观察采用扫描电镜时模板、复合物及聚合物的形貌和微观结构进行了观察和表征。
- In-Situ Studies of Uranium Oxidation by Micro-Raman Spectroscopy and Atomic Force Microscopy(AFM)
- 金属铀氧化的显微拉曼光谱和原子力显微镜(AFM)原位研究
- The pore structure of eucalyptus pulp fibers was investigated by means of atomic force microscopy ( AFM ) and low-temperature nitrogen adsorption.
- 采用原子力显微镜(AFM)和低温氮吸附法研究了桉木浆纤维的孔隙结构,并运用分形理论对孔隙结构进行了分析。
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