VAM:有效分析测量
在学术与科学领域,特别是电子相关学科中,“Valid Analytical Measurement”常被缩写为“VAM”,以便于快速书写和使用。该术语对应的中文含义为“有效分析测量”,它强调了测量过程在分析中的准确性与可靠性。这一缩写的广泛应用,有助于提升相关专业文献和技术交流的效率。
Valid Analytical Measurement具体释义
Valid Analytical Measurement的英文发音
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