SCI:表面电荷成像
“表面电荷成像”(Surface Charge Imaging,常缩写为SCI)是一种广泛应用于电子学及相关科研领域的检测技术,主要用于对材料表面的电荷分布进行高分辨率成像分析。该缩写形式SCI便于学术写作与专业交流,能够有效简化表述并提高信息传递效率。
Surface Charge Imaging具体释义
Surface Charge Imaging的英文发音
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