BSED：背散射电子探测器

背散射电子探测器（Back Scattered Electron Detector，常缩写为BSED）是一种用于扫描电子显微镜的关键检测装置，主要用于接收和分析样品表面反射回来的高能电子信号，从而获取材料的成分分布和形貌信息。该缩写形式BSED因其简洁易记，在材料科学、地质、生物等跨学科研究和工业检测中被广泛采用，便于书写和交流。

Back Scattered Electron Detector具体释义

  • 英文缩写：BSED
  • 英语全称：Back Scattered Electron Detector
  • 中文意思：背散射电子探测器
  • 中文拼音：
  • 相关领域： bsed 未分类的

Back Scattered Electron Detector的英文发音

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