SPMS:扫描探针显微镜
扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy,简称SPM)是一种在多个综合领域中广泛使用的精密测量技术。为了书写和使用的便利,该技术常被缩写为SPMS。其核心功能是通过探针在样品表面扫描,实现原子级分辨率的表面形貌与物理性质分析,在材料科学、纳米技术和生物研究等领域具有重要应用价值。
Scanning probe microscopy SPM具体释义
Scanning probe microscopy SPM的英文发音
例句
- Scanning probe microscopy ( SPM ) related surface science and nanotechnology.
- 与扫描探针有关的表面科学和纳米技术。
- However, a new member of the scanning probe microscopy ( SPM ) family, atomic-force acoustic microscopy ( AFAM ), provides the solution to several long-standing problems.
- 扫描探针显微镜(SPMS)家族的新成员?原子力声学显微镜(AFAM)为一些长期存在的问题提供了有效的解决办法。
- Recent developments of scanning electron microscopy ( SEM ) and scanning probe microscopy ( SPM ) were reviewed as commonly used microanalysis methods.
- 本文介绍扫描电子显微术(SEM)和扫描探针显微术(SPM)这两种最常用的微分析方法的新进展。
- Scanning probe microscopy ( SPM ), a new technology to analyses the solid surface, is developed in 1980's.
- 扫描探针显微术(SPM)是80年代初发展起来的一类新型表面研究技术。
- In this dissertation, the invention and development of scanning probe microscopy ( SPM ) and its application in Self-assembled Monolayers ( SAMs ) systems have been reviewed.
- 本文简要评述了扫描探针显微镜(SPMS)(SPM)技术的提出、发展及其在自组装体系中的研究应用。
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