CD/OL：临界尺寸叠加

“临界尺寸叠加”（Critical Dimension Overlay）在学术及电子工程领域常被缩写为CD/OL。这一缩写便于书写与交流，尤其在涉及集成电路制造和微纳加工技术的文献中频繁出现，用于描述关键尺寸层间的对准精度与叠加误差的测量与分析。

Critical Dimension OverLay具体释义

  • 英文缩写：CD/OL
  • 英语全称：Critical Dimension OverLay
  • 中文意思：临界尺寸叠加
  • 中文拼音：lín jiè chǐ cùn dié jiā
  • 相关领域： cdol 电子

Critical Dimension OverLay的英文发音

例句

  1. Systematic Control Exploitation for Critical Dimension and Overlay in Photolithography Technology
  2. 光刻工艺中对线宽和套刻系统性控制的开发

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