TEM：透射电子显微镜

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，简称TEM）是物理学和材料科学等学术研究领域中广泛使用的一种高分辨率成像技术。采用缩写“TEM”既便于书写交流，也有助于在专业文献和日常沟通中快速指代这一关键仪器。该设备利用电子束穿透样品来观测其内部微观结构，已成为现代科学研究的重要工具之一。

Transmission Electron Microscopy具体释义

  • 英文缩写：TEM
  • 英语全称：Transmission Electron Microscopy
  • 中文意思：透射电子显微镜
  • 中文拼音：tòu shè diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： tem 物理学

Transmission Electron Microscopy的英文发音

例句

  1. Microstructures of the composites were investigated by X ray diffraction and transmission electron microscopy.
  2. 通过X射线衍射和透射电镜对复合材料的结构进行了表征。
  3. The structure and morphology of the obtained samples were characterized by X-ray diffraction, transmission electron microscopy.
  4. 采用X-射线粉末衍射、扫描电镜，对其结构、形貌和光催化特征进行了表征。
  5. High resolution transmission electron microscopy and selected area electron diffraction were used to characterize the products.
  6. 利用高分辨透射电镜和电子衍射仪器对合成的纳米颗粒的结构进行了表征。
  7. These features are examined by optical microscopy, scanning electron microscopy, and transmission electron microscopy.
  8. 这些图形可以用光学显微镜，扫描电子显微镜和透射电子显微镜(TEM)来观察。
  9. Transmission electron microscopy study shows the sizes of nc-Si grains on the two different substrates.
  10. 透射电子显微镜(TEM)方法的研究显示了两种衬底上纳米硅晶粒的尺寸。

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