ELL:椭偏仪
椭偏仪是一种在学术和科学研究中常用的精密光学测量仪器,尤其在地质学领域应用广泛。为便于快速书写和使用,其英文名称“Ellipsometer”常被缩写为“ELL”。椭偏仪主要用于分析材料的表面特性及薄膜厚度,具有高精度、非接触测量的特点。
Ellipsometer的英文发音
例句
- This can afford the theoretical and experimental proof for adjusting ellipsometer rapidly.
- 为迅速调整好椭偏仪(ELL)提供了理论和实验依据。
- In this paper, we study the detecting methods for testing the biochip by using the theory of ellipsometer.
- 介绍了利用椭圆偏振测量仪原理测试生物芯片的检测方法。
- FE-SEM, AFM and Spectroscopic Ellipsometer(ELL) are used to characterize the surface microstructure and optical properties of the film.
- 使用反射式扫描椭偏仪(ELL)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)测试了薄膜的光学性能和微观形貌。
- The successfully developed of this ellipsometer greatly stimulates our country's magnetooptic disk qualities.
- 而且该椭偏仪(ELL)的研制成功对国产磁光盘质量提高具有极大的促进作用。
- A type of infrared spectroscopic ellipsometer was designed and constructed to study the optical properties of materials in the2.
- 研制成测量材料光学特性的红外椭圆偏振光谱仪,其测量波长范围为2。
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