FIBM：聚焦离子束铣削

聚焦离子束铣削（Focused Ion Beam Milling，常缩写为FIBM）是一种广泛用于材料科学、半导体制造和纳米技术等综合性领域的精密加工技术。该缩写形式便于科研和工程人员在日常交流与书面记录中快速书写和引用，有助于提升信息传递的效率。

Focused Ion Beam Milling具体释义

  • 英文缩写：FIBM
  • 英语全称：Focused Ion Beam Milling
  • 中文意思：聚焦离子束铣削
  • 中文拼音：jù jiāo lí zǐ shù xǐ xiāo
  • 相关领域： fibm 未分类的

Focused Ion Beam Milling的英文发音

例句

  1. We report a nano-precise fabrication of various designs of photonic crystals in these non-conventional materials using the focused ion beam milling technique.
  2. 本文报道了在这种非传统材料中用聚焦离子束加工技术实现的多种纳米精度光子晶体结构。
  3. There are several methods used to build the nanoscale materials from the bulk which include e-beam lithography, AFM manipulation, focused ion beam milling, and direct laser writing. There are problems associated with these methods in reducing the bulk materials to the nano level.
  4. 由体材料制备纳米材料有很多方法，包括电子束光刻法，原子力显微镜操作，聚焦离子束抛光和激光直写法等，但是利用这些方法将体材料切片至纳米尺度仍存在一些问题。

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