ATPG：自动生成测试模式

“自动测试模式生成”（Automatic Test Pattern Generation）通常被缩写为ATPG，这一做法便于快速书写与日常使用，在学术研究和工程应用领域尤为普及。该技术主要用于电子设计与集成电路测试中，旨在高效生成检测电路故障所需的测试向量，是保障芯片质量与可靠性的关键技术之一。

Automatic Test Pattern Generation具体释义

  • 英文缩写：ATPG
  • 英语全称：Automatic Test Pattern Generation
  • 中文意思：自动生成测试模式
  • 中文拼音：zì dòng shēng chéng cè shì mó shì
  • 相关领域： atpg 电子

Automatic Test Pattern Generation的英文发音

例句

  1. Comparing Automatic Test Pattern Generation(ATPG) System
  2. 数字电路测试向量自动生成系统的比较
  3. A new automatic test pattern generation ( ATPG ) methodology based on chaotic neural network method is described.
  4. 阐述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成（ATPG）算法。
  5. Study on Automatic Test Pattern Generation(ATPG) for Digital Circuit Based on Ant Colony Algorithm
  6. 基于蚁群算法的数字电路测试模式生成研究
  7. Automatic Test Pattern Generation(ATPG) for Multi-Clock Digital System Based on SCCT
  8. 基于安全充分捕获技术的多时钟数字系统测试矢量生成
  9. Reliability of digital circuits is very important and testing is its significant guarantee, while Automatic Test Pattern Generation(ATPG) ( ATPG ) is the major task of the test.
  10. 数字电路的可靠性有着至关重要的影响，测试是其重要保证，测试向量的自动生成（ATPG）在数字电路的测试中占有重要地位；

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