IMMA：离子显微滚刀质量分析

“离子显微探针质量分析”（Ion Microprobe Mass Analysis）在学术和电子科学领域中常被缩写为IMMA，这种简写方式便于快速书写与交流。该方法利用高能离子束对材料表面进行微区分析，可精确测定元素成分和同位素比值，广泛应用于地质学、材料科学及半导体研究。

Ion Microphobe Mass Analysis具体释义

  • 英文缩写：IMMA
  • 英语全称：Ion Microphobe Mass Analysis
  • 中文意思：离子显微滚刀质量分析
  • 中文拼音：lí zǐ xiǎn wēi gǔn dāo zhì liàng fēn xī
  • 相关领域： imma 电子

Ion Microphobe Mass Analysis的英文发音

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