SES：二次电子光谱学

“二次电子光谱学”（Secondary Electron Spectroscopy，简称SES）是材料科学与表面分析领域一项重要的表征技术，主要用于研究材料表面的电子发射特性。该缩写形式SES因其简洁高效的特点，在学术论文及专业交流中被广泛采用，便于快速书写和引用。

Secondary Electron Spectroscopy具体释义

  • 英文缩写：SES
  • 英语全称：Secondary Electron Spectroscopy
  • 中文意思：二次电子光谱学
  • 中文拼音：èr cì diàn zǐ guāng pǔ xué
  • 相关领域： ses 电子

Secondary Electron Spectroscopy的英文发音

例句

  1. Study on secondary electron emitter MgO thin film with Auger electron spectroscopy
  2. 二次发射体MgO薄膜的俄歇电子能谱的研究
  3. The experiments were performed by means of Secondary Ion Mass Spectroscopy ( SIMS ) and Auger Electron Spectroscopy ( AES ).
  4. 采用了二次离子质谱仪（SIMS）和俄歇电子谱仪（AES）进行表面分析。

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