DFT：可测试性设计

“Design For Testability”（通常缩写为DFT）是为了简化书写和使用而形成的常用术语。它在电子工程及相关技术领域中广泛使用，尤其在芯片设计和系统开发流程中具有重要意义。该术语的中文对应概念是“可测试性设计”，强调在产品研发早期阶段就充分考虑并优化测试的可行性与效率。

Design For Testability具体释义

  • 英文缩写：DFT
  • 英语全称：Design For Testability
  • 中文意思：可测试性设计
  • 中文拼音：kě cè shì xìng shè jì
  • 相关领域： dft 电子

Design For Testability的英文发音

例句

  1. As a new method of design for testability build-in self-test can prominently improve the testability of the circuits.
  2. 内建自测试作为一种新的可测性设计方法，能显著提高电路的可测性。
  3. Design for Testability : to test the design.
  4. 可测性设计：有利于测试的设计。
  5. Design for Testability and Implement Technology in ASIC Design
  6. ASIC集成电路的可测性设计与技术实现
  7. Diagnostic strategy design is an important task in the design for testability ( DFT ).
  8. 诊断策略优化设计是测试性设计中的一项重要内容。
  9. Research on Design for Testability and Test Algorithm of Embedded Memory
  10. 嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究

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