SAM：扫描螺旋显微镜

“扫描俄歇显微术”（Scanning Auger Microscopy，简称SAM）是表面分析领域常用的表征技术之一，广泛应用于材料科学和微电子研究。使用缩写SAM便于在论文和报告中简洁表达，其核心功能是通过探测俄歇电子来获取材料表面的元素成分和化学状态信息。

Scanning Auger Microscopy具体释义

  • 英文缩写：SAM
  • 英语全称：Scanning Auger Microscopy
  • 中文意思：扫描螺旋显微镜
  • 中文拼音：sǎo miáo luó xuán xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： sam 电子

Scanning Auger Microscopy的英文发音

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