WAMA：晶片测绘

“晶圆测绘”在学术与电子科学领域常被缩写为WAMA，这一约定俗成的简称极大地方便了文档书写与技术交流。其核心概念在于对半导体晶圆进行精确的定位与图形化数据测绘，是集成电路制造与研发过程中的一项关键技术。

WAfer MApping具体释义

  • 英文缩写：WAMA
  • 英语全称：WAfer MApping
  • 中文意思：晶片测绘
  • 中文拼音：jīng piàn cè huì
  • 相关领域： wama 电子

WAfer MApping的英文发音

例句

  1. The defects distribution of SI-GaAs wafer using PL Mapping technique
  2. PLmapping技术检测大直径SI-GaAs晶片中缺陷分布
  3. In this paper, the defects distribution of SI-GaAs wafer was studied using PL Mapping technique in detail.
  4. 采用PLmapping技术，检测6英寸SI-GaAs晶片的均匀性，从而得到样品中的缺陷分布状况。

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