DLD：暗线缺陷
“暗线缺陷”（Dark Line Defect，简称DLD）是电子与材料科学领域中的一个专业术语，主要用于描述半导体或显示设备中因晶体结构异常而产生的线性暗影缺陷。这一缩写形式DLD在学术文献和技术文档中被广泛使用，既便于快速书写，也有助于保持表述的简洁性和规范性。
Dark Line Defect的英文发音
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