TTV:总厚度变化
“Total Thickness Variation” 通常缩写为TTV,这一简化表达在电子制造与材料科学等领域被广泛采用,有助于提高书写与交流效率。其对应的中文术语为“总厚度变化”,用以描述材料或器件在厚度方向上的整体均匀性差异指标。
Total Thickness Variation具体释义
Total Thickness Variation的英文发音
例句
- A model of theoretical topography of a silicon wafer was established using its flatness and total thickness variation ( TTV ).
- 以硅片表面的平整度(flatness)和硅片表面的全场厚度范围(TTV)等参数为基础,建立了硅片表面的理论形貌模型。
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