SPM：扫描探针显微镜

“扫描探针显微镜”（Scanning Probe Microscopy，简称SPM）是一种在电子学、材料科学等学术领域广泛使用的精密测量技术。为便于书写和日常交流，该术语常缩写为SPM，既简洁又便于专业人士快速识别与使用。

Scanning Probe Microscopy具体释义

  • 英文缩写：SPM
  • 英语全称：Scanning Probe Microscopy
  • 中文意思：扫描探针显微镜
  • 中文拼音：sǎo miáo tàn zhēn xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： spm 电子

Scanning Probe Microscopy的英文发音

例句

  1. Scanning probe microscopy ( SPM ) related surface science and nanotechnology.
  2. 与扫描探针有关的表面科学和纳米技术。
  3. In this thesis, we have applied the powerful technique called scanning probe microscopy to investigate several newly developed semiconductors as well as piezoelectric materials.
  4. 在这本论文中，我们使用扫描探针显微术去研究许多半导体和压电材料上的新发展。
  5. Application of Scanning Probe Microscopy(SPM) in Nano Technology
  6. 扫描探针显微术及其在纳米科技中的应用
  7. Research on Lymphocyte Morphology and Biomechanics Based on Scanning Probe Microscopy(SPM)
  8. 基于扫描探针显微术的淋巴细胞形态及其生物力学研究
  9. However, a new member of the scanning probe microscopy ( SPM ) family, atomic-force acoustic microscopy ( AFAM ), provides the solution to several long-standing problems.
  10. 扫描探针显微镜(SPM)家族的新成员？原子力声学显微镜（AFAM）为一些长期存在的问题提供了有效的解决办法。

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