DLBI：器件级预烧
在电子与学术研究领域，“Device Level Burn-In”一词常被简写为DLBI，以便于快速书写和频繁使用。其对应的中文译名为“器件级预烧”，通常指在产品生产过程中对各类电子元器件进行长时间高温负荷测试，以提前发现潜在故障，确保器件的可靠性。这类工艺在半导体制造、集成电路等领域应用广泛，是提升产品品质的重要环节。
Device Level Burn-In的英文发音
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