FTM:膜厚监测仪
“膜厚监测仪”是一种在电子与材料科学等领域广泛应用的精密仪器,用于实时监测薄膜沉积过程中的厚度变化。其英文全称为“Film Thickness Monitor”,为便于书写和交流,常缩写为FTM。该设备在科研和工业生产中具有重要作用,可确保薄膜质量与工艺控制的高精度要求。
Film Thickness Monitor具体释义
Film Thickness Monitor的英文发音
例句
- A wireless film thickness monitor system base on MCU and CPLD
- 基于单片机和CPLD的无线膜厚监测系统
- Real-time Optical Thin Film Thickness Monitor(FTM) System
- 实时光学薄膜膜厚监控系统研究
- A quartz crystal film thickness monitor;
- 石英晶体膜厚计;
- An optical thin film thickness network monitor system was realized by the basic theory of photoelectricity extremum method and the foundation of modern network communication technology.
- 以光电极值法为基本理论,以现代网络传输技术为基础,实现了光学薄膜厚度网络监控系统。
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