BEEM：弹道电子发射光谱

“弹道电子发射光谱”是一种在电子学和材料科学领域广泛应用的分析技术，其英文全称为“Ballistic Electron Emission Spectroscopy”。为便于书写与交流，该技术常被简称为BEEM。BEEM主要用于研究半导体材料界面处的电子输运特性，通过分析电子的弹道发射行为来获取材料能带结构和界面性质的精确信息。

Ballistic Electron Emission Spectroscopy具体释义

  • 英文缩写：BEEM
  • 英语全称：Ballistic Electron Emission Spectroscopy
  • 中文意思：弹道电子发射光谱
  • 中文拼音：dàn dào diàn zǐ fā shè guāng pǔ
  • 相关领域： beem 电子

Ballistic Electron Emission Spectroscopy的英文发音

例句

  1. Ballistic electron emission spectroscopy of au / si ( 100 ) interface
  2. 弹道电子发射显微镜对Au/n-Si（100）界面势垒的探测
  3. The local barrier heights of the CoSi 2 / Si contacts are determined by using the ballistic electron emission microscopy ( BEEM ) and its spectroscopy ( BEES ) at low temperature.
  4. 在低温下，用弹道电子显微术（BEEM）及其谱线（BEES）测量了CoSi2/Si接触的局域肖特基势垒高度。

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