SIMS：二次离子质谱仪

“二次离子质谱仪”（Secondary Ion Mass Spectrometer）在科技文献和专业应用中常被缩写为SIMS，这一简称便于快速书写和交流，广泛应用于材料科学、地质分析、生物检测等多个综合领域。该仪器通过二次离子质谱技术实现对样品表面成分的高灵敏度检测，是科研与工业检测中的重要工具。

Secondary Ion Mass Spectrometer具体释义

  • 英文缩写：SIMS
  • 英语全称：Secondary Ion Mass Spectrometer
  • 中文意思：二次离子质谱仪
  • 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ yí
  • 相关领域： sims 未分类的

Secondary Ion Mass Spectrometer的英文发音

例句

  1. The FTE SAMs was characterized by the time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), atomic force microscopy ( AFM ) and contact angle measurement, and the tribology properties of the FTE SAMs were measured by the Olympus head / disk interface reliability measurement system.
  2. 应用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行表征。通过Olympus磁头磁盘界面可靠性测试系统对FTE自组装膜的摩擦学性能进行研究。
  3. A time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ), an atomic force microscopy ( AFM ), and contact angle measurements were used to characterize the monolayer.
  4. 使用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、X射线光电子能谱仪（XPS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。
  5. Particle Analysis in Nuclear Safeguards and Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS)
  6. 核保障的微粒分析与二次离子质谱仪(SIMS)
  7. The distribution of trace elements as Fe, Si, Cu, Mg, Mn and Zn in the surface layer was also determined by secondary ion mass spectrometer.
  8. 利用二次离子质谱仪(SIMS)检测了铝箔表面区Fe、Si、Cu、Mg、Mn、Zn等微量元素的分布。
  9. The Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS) ( SIMS ), especially dynamic SIMS, is the most suitable instrument for particle isotopic analysis.
  10. 动态型二次离子质谱仪(SIMS)（SIMS）是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。

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