STEM:扫描透射电子显微镜
扫描透射电子显微镜,英文全称为 Scanning Transmission Electron Microscopy,通常简写为 STEM,以便在学术写作和科学交流中实现快速表达。这一缩写广泛应用于电子显微学、材料科学和纳米技术等前沿研究领域,用于表征材料的微观结构和成分。
Scanning Transmission Electron Microscopy具体释义
Scanning Transmission Electron Microscopy的英文发音
例句
- Surface morphology and microstructure of U films prepared by magnetron sputtering deposition are investigated with X ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) and scanning transmission electron microscopy ( STEM ).
- 采用X射线光电子能谱仪(XPS)和扫描透射电镜(STEM)分析了在Al薄膜基材上磁控溅射沉积U薄膜的表面形貌、组织和结构;
- The effect of vapour and sputter deposited vacuum on composition and structure of U thin films was investigated with X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) and scanning transmission electron microscopy ( STEM ).
- 用X-光电子能谱仪(XPS)、扫描透射电镜(STEM)分析了蒸发、磁控溅射沉积真空对铀薄膜组成和结构的影响。
- Model of growth, surface morphology, microstructure and of the Uraniun films by magnetron sputter deposition have been investigated by scanning transmission electron microscopy ( STEM ).
- 采用扫描透射电镜(STEM),研究了铝上磁控溅射沉积铀薄膜的形貌、组织、结构以及铀薄膜的生长模型。
- A method obtaining scanning transmission electron microscopy images
- 一种获得扫描透射电子象的方法
- Z-contrast scanning transmission electron microscopy in materials science
- Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展
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