AEM：分析电子显微镜

分析电子显微镜（Analytical Electron Microscopy，简称AEM）是一种重要的科学研究工具，广泛应用于电子学、材料科学和相关技术领域。该术语常缩写为AEM，便于学术写作和交流中的快速引用。作为一种先进的显微分析技术，它能够提供高分辨率的图像和精确的成分信息，成为现代实验室不可或缺的设备之一。

Analytical Electron Microscopy具体释义

  • 英文缩写：AEM
  • 英语全称：Analytical Electron Microscopy
  • 中文意思：分析电子显微镜
  • 中文拼音：fēn xī diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： aem 电子

Analytical Electron Microscopy的英文发音

例句

  1. The fine scale microstructure of powder metallurgy high speed steels has been investigated by using analytical electron microscopy.
  2. 应用分析电子显微术对粉末冶金高速钢的精细结构进行了研究。
  3. Defects in photorefractive BaTiO_3 crystal, obtained by the top seed solution growth method, have been studied by analytical electron microscopy.
  4. 用分析电子显微镜(AEM)研究了顶部籽晶法生长的BaTiO3晶体内的缺陷。
  5. Analytical electron microscopy of defects in photorefractive batio_3 crystal
  6. 光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜(AEM)研究
  7. After a subsequent annealing, the final crystalline products were preliminarily characterized by X-ray diffractometry and then analytical electron microscopy. High resolution lattice images were recorded by JEOL JEM 200 OX electron microscope.
  8. 用X射线衍射和分析电子显微镜(AEM)进行研究，并用高分辨电子显微镜观察，由JEOLJEM200CX获得晶格象照片。
  9. The analysis on the lattice mismatch, chemical composition distribution and interplanar spacing of { 111 } in the specimens by analytical electron microscopy has been carried out.
  10. 通过对量子点高分辨像显示的晶格错配和化学成分分析研究，解释了所研究样品中量子点尺寸逐层增大的现象。

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