TPG：测试模式生成

“Test Pattern Generation”在学术及电子工程等领域常被简称为TPG，这一缩写便于书写和使用，有效提升了技术交流的效率。其中文含义为“测试模式生成”，主要指在集成电路测试中生成特定信号序列以验证硬件功能的关键技术环节。

Test Pattern Generation具体释义

  • 英文缩写：TPG
  • 英语全称：Test Pattern Generation
  • 中文意思：测试模式生成
  • 中文拼音：cè shì mó shì shēng chéng
  • 相关领域： tpg 电子

Test Pattern Generation的英文发音

例句

  1. Comparing Automatic Test Pattern Generation(TPG) System
  2. 数字电路测试向量自动生成系统的比较
  3. Based on cell fault model, the paper studies test pattern generation and self test of tree adder, which is frequently used in the high performance processors.
  4. 时延故障对高速运算电路性能有着关键性的影响，本文对其中之一的并行前置树型加法器的通路时延故障测试作了研究。
  5. Test pattern generation program
  6. 测试码模式生成程序
  7. This paper presents a test pattern generation system implemented on a CAD workstation.
  8. 本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。
  9. Therefore, the study of multi-core chip low-power BIST test pattern generation and application is of great significance.
  10. 因此研究多核芯片BIST低功耗测试模式生成(TPG)和应用，具有十分重要的意义。

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