TDDB：依赖时间的DI电气故障

“Time-Dependent Dielectric Breakdown”通常被缩写为TDDB，这种简写方式在学术和工程领域广泛使用，尤其常见于电子学与半导体研究中，便于快速书写和口头交流。其对应的中文术语为“时间依赖型介电击穿”，用以描述在持续电场作用下，绝缘介质随时间的推移逐渐失效的物理现象，是评估材料可靠性和器件寿命的重要指标之一。

Time-Dependent Di-electric Breakdown具体释义

  • 英文缩写：TDDB
  • 英语全称：Time-Dependent Di-electric Breakdown
  • 中文意思：依赖时间的DI电气故障
  • 中文拼音：yī lài shí jiān de diàn qì gù zhàng
  • 相关领域： tddb 电子

Time-Dependent Di-electric Breakdown的英文发音

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