SIMS：二次离子质谱法

“二次离子质谱法”（Secondary Ion Mass Spectrometry）通常缩写为 SIMS，这种缩写形式在书写和使用上更为便捷高效。作为一种表面分析技术，SIMS 广泛应用于材料科学、地质研究、半导体检测等多个综合领域，尤其适用于成分深度剖析和微量元素检测。该方法通过用高能离子束轰击样品表面，使样品原子或分子发生电离，进而通过质谱分析其成分，具有高灵敏度和高空间分辨率的特点。

Secondary Ion Mass Spectometry具体释义

  • 英文缩写：SIMS
  • 英语全称：Secondary Ion Mass Spectometry
  • 中文意思：二次离子质谱法
  • 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ fǎ
  • 相关领域： sims 未分类的

Secondary Ion Mass Spectometry的英文发音

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