AUT：被测阵列
在计算机科学，尤其是硬件测试领域，“Array Under Test”（被测阵列）是一个常用术语。为了书写和使用的便捷，该术语通常被缩写为“AUT”。这个简称广泛应用于芯片测试、内存验证等硬件设计与调试环节中，用以指代当前正在进行功能或性能测试的阵列结构。
Array Under Test的英文发音
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