GXR:掠入射X射线反射计
“Grazing X-ray Reflectometry”在学术写作和物理学研究中常被缩写为GXR,以便于快速书写和频繁引用。这一术语的中文全称为“掠入射X射线反射计”,是一种用于材料表面和界面结构分析的重要实验技术。该技术通过测量X射线在材料表面的反射行为,能够精确获取薄膜厚度、密度以及粗糙度等关键物理参数。
Grazing X-ray Reflectometry具体释义
Grazing X-ray Reflectometry的英文发音
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