FIB：聚焦离子束

聚焦离子束（Focused Ion Beam，常缩写为FIB）是一种利用聚焦的离子束对材料进行精确加工和分析的先进技术。该缩写形式便于书写和日常交流，广泛应用于微纳加工、材料科学、半导体检测等多个综合领域。FIB技术凭借其高精度和多功能性，已成为现代科研与工业应用中不可或缺的重要工具。

Focus Ion Beam具体释义

  • 英文缩写：FIB
  • 英语全称：Focus Ion Beam
  • 中文意思：聚焦离子束
  • 中文拼音：jù jiāo lí zǐ shù
  • 相关领域： fib 未分类的

Focus Ion Beam的英文发音

例句

  1. Focus ion beam ( FIB ) with liquid metal ion soure ( LMIS ) has many applications in modern instrumental analysis and microfabrication.
  2. 液态金属离子源（LMIS）的亚微米聚焦离子束(FIB)（FIB）在现代分析技术和微细加工等领域有很多应用。介绍一种计算机控制的快速、灵活、准确的束斑测量方法；

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