UFM：超声力显微镜

“超声力显微镜”（Ultrasonic Force Microscopy，简称UFM）是一种在物理学及相关学术科学领域中广泛使用的微观检测技术。为了便于书写与交流，其英文名称常缩写为UFM。该技术通过结合超声波与原子力显微术，能够探测材料在纳米尺度下的机械性能，为材料科学和表面物理研究提供了重要的分析手段。

Ultrasonic Force Microscopy具体释义

  • 英文缩写：UFM
  • 英语全称：Ultrasonic Force Microscopy
  • 中文意思：超声力显微镜
  • 中文拼音：chāo shēng lì xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： ufm 物理学

Ultrasonic Force Microscopy的英文发音

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