DL：缺陷日志

“Defect Log”（简称DL）是计算机软件领域中常用的术语，其中文含义为“缺陷日志”。该缩写形式便于在日常开发和测试工作中快速书写与使用，主要用于记录、跟踪和管理软件中发现的各类缺陷问题，有助于提升项目管理效率和质量控制流程。

Defect Log具体释义

  • 英文缩写：DL
  • 英语全称：Defect Log
  • 中文意思：缺陷日志
  • 中文拼音：quē xiàn rì zhì
  • 相关领域： dl 软件

Defect Log的英文发音

例句

  1. Effects of Moisture Content on Defect of Log Flaws Detection
  2. 含水率对原木孔洞缺陷应力波检测效果的影响
  3. Under the Framework of the learner behavior Data Analysis, the defect of Log Analysis can be modified by associating all the useful relative data.
  4. 在学习者行为数据分析系统框架下，日志分析所存在不足需要通过增加各种相关信息的关联性予以改进。
  5. Different operators are used to inspect the two types defect, LOG operator for the circular defect, and steerable filter operator for bar defects, then it can classify the defects based on detected shape parameters of defects.
  6. 使用LOG算子提取圆形缺陷，使用方向可调滤波器提取条形缺陷，根据检测到的缺陷的形状参数来对缺陷进行分类判级。
  7. Wood Defect Recognition in Log CT Images by Artificial Neural Network
  8. 基于人工神经网络的原木CT图像缺陷识别
  9. You can also submit a ClearQuest defect while you are in the Test Log viewer.
  10. 当您在TestLog视图中的时候也可以提交ClearQuest缺陷。

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