XTEM：横截面透射电子显微镜

横截面透射电子显微镜（Cross-sectional Transmission Electron Microscopy，常缩写为XTEM）是一种在材料科学和电子技术等领域广泛使用的微观结构分析手段。该缩写形式便于学术文献和日常交流中快速引用和使用，主要用于观察和分析材料的横截面形貌、晶体结构及缺陷特征。

Cross-sectional Transmission Electron Microscopy具体释义

  • 英文缩写：XTEM
  • 英语全称：Cross-sectional Transmission Electron Microscopy
  • 中文意思：横截面透射电子显微镜
  • 中文拼音：héng jié miàn tòu shè diàn zǐ xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： xtem 电子

Cross-sectional Transmission Electron Microscopy的英文发音

例句

  1. Structural characterization and evolution of Fe / Ti nanometer-scale multilayers during thermal annealing at 473-873 K for 1 h were investigated by using small / wide angle x-ray diffraction, Rutherford backscattering spectrometry, cross-sectional transmission electron microscopy and differential scanning calorimetry.
  2. 利用Rutherford背散射、小角和广角x射线衍射、高分辨透射电子显微镜和差示扫描量热方法分析了Fe／Ti纳米多层薄膜的结构及其473-873K真空退火1h后的退火行为。
  3. By using cross-sectional transmission electron microscopy ( XTEM ) the effect of post-implanted Ar ~ + on the secondary defects in high energy P ~ + - implanted silicon are investigated.
  4. 用剖面的电子显微术（XTEM）研究了后注Ar~+对高能注P~+硅中二次缺陷的影响。
  5. Ion-irradiation-induced transition of single crystal Gd_2Zr_2O_7 pyrochlore was studied by cross-sectional transmission electron microscopy ( TEM ) and high-resolution TEM ( HRTEM ).
  6. 通过高分辨和剖面电子显微技术研究了离子注入在单晶焦绿石Gd2Zr2O7中的产生的结构相变。
  7. Elastic Relaxation in Cross-sectional Transmission Electron Microscopy(XTEM) Specimens of Ge_xSi_ ( 1-x ) / Si Strained-layer Superlattices
  8. Ge＿xSi＿（1－x）／Si应变层超晶格的横截面电镜样品中的弹性驰豫

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