SCM：扫描电容显微镜

扫描电容显微镜（Scanning Capacitance Microscopy，简称SCM）是一种在电子及相关学术科研领域广泛使用的精密测量技术。为便于书写和交流，其英文名称常缩写为SCM。该技术通过检测微小电容变化来获取样品表面的电学特性，在半导体材料和器件分析中具有重要应用价值。

Scanning Capacitance Microscopy具体释义

  • 英文缩写：SCM
  • 英语全称：Scanning Capacitance Microscopy
  • 中文意思：扫描电容显微镜
  • 中文拼音：sǎo miáo diàn róng xiǎn wēi jìng
  • 相关领域： scm 电子

Scanning Capacitance Microscopy的英文发音

例句

  1. Study of Al Nanoparticles on Au Substrate with Scanning Capacitance Microscopy(SCM)
  2. 用扫描电容显微镜(SCM)（SCM）研究金基底上的铝纳米粒子

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