IRTC-1:互连可靠性测试芯片-1
在电子工程与半导体技术等学术及科学领域,专业人员通常会将“Interconnect Reliability Test Chip-1”简称为IRTC-1,以方便在文献撰写、技术交流或日常工作中快速书写与使用。该术语的中文对应名称为“互连可靠性测试芯片-1”,主要用于评估集成电路中互连结构的可靠性与性能表现。
Interconnect Reliability Test Chip-1具体释义
Interconnect Reliability Test Chip-1的英文发音
本站英语缩略词为个人收集整理,可供非商业用途的复制、使用及分享,但严禁任何形式的采集或批量盗用
若IRTC-1词条信息存在错误、不当之处或涉及侵权,请及时联系我们处理:675289112@qq.com。