SIMS：二次离子质谱

在电子等前沿学术科研领域中，“Secondary Ion Mass Spectroscopy”（二次离子质谱）是一项重要的表面分析技术。为便于书写与交流，该技术名称通常缩写为“SIMS”，既简洁又符合国际通用习惯，在材料科学、半导体研究等多个学科中广泛应用。

Secondary Ion Mass Spectroscopy具体释义

  • 英文缩写：SIMS
  • 英语全称：Secondary Ion Mass Spectroscopy
  • 中文意思：二次离子质谱
  • 中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ
  • 相关领域： sims 电子

Secondary Ion Mass Spectroscopy的英文发音

例句

  1. Study of Quantitative Analysis of Vanadium in SiC by Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS); any of several toxic or carcinogenic hydrocarbons that occur as impurities in herbicides.
  2. 二次离子质谱(SIMS)分析碳化硅中钒杂质含量的研究一些有毒或致癌的碳氢化合物，除草剂中的杂质。
  3. Deuterium oxide absorption distribution was measured by time of flight secondary ion mass spectroscopy ( ToF-SIMS ).
  4. 采用飞行时间次级离子质谱分析法（TOF-SIMS）来测量重水吸收性分布。
  5. An experiment was conducted to study the high-temperature annealing characteristics of polysilicon films using atomic force microscope, secondary ion mass spectroscopy and probe.
  6. 利用原子力显微镜、二次离子质谱(SIMS)分析仪和探针，对多晶硅薄膜的高温退火特性进行了实验研究。
  7. Investigating progress of hydrogen release during plastic deformation and hydrogen diffusivity under high vacuum, hydrogen distribution in hulks and hydride formation at crack tips, hydrogen segregation at grain boundaries and quantitative hydrogen analysis have been presented using Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS) ( SIMS ).
  8. 本文介绍了二次离子质谱(SIMS)技术对于塑性形变过程中氢释放和高真空下氢扩散率，体内氢分布和裂尖氢化物形成，晶界氢偏析和定量氢分析等方面的研究进展。
  9. The enhanced adhesion of Cu films on Si substrates under MeV Cl ion beam irradiation was studied through analysis of Scanning Auger Microprobe ( SAM ) and Secondary Ion Mass Spectroscopy(SIMS) ( SIMS ).
  10. 本文通过用扫描俄歇微探针（SAM）和二次离子质谱(SIMS)（SIMS）分析了高能氯离子注入Cu／Si系统，对Cu薄膜附着力增强效应进行了研究。

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