SNMS:二次中性质谱法
二次中性质谱法(Secondary Neutral Mass Spectrometry,简称SNMS)是材料分析领域的一种重要技术,常被简称为SNMS以便于书写和使用。该方法广泛应用于表面科学、薄膜分析等综合性研究领域,主要用于检测材料表面的元素组成与分布情况。其原理是通过离子束溅射样品产生中性粒子,再经电离后进行质谱分析,具有高灵敏度与深度分辨率的特点,为材料表征提供了可靠的技术支持。
Secondary Neutral Mass Spectrometry具体释义
Secondary Neutral Mass Spectrometry的英文发音
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