EPMA:电子探针显微分析
电子探针显微分析(Electron-Probe Microanalysis,简称EPMA)是一种在材料科学和地质学等研究领域广泛应用的尖端分析技术。它利用聚焦的电子束对样品表面进行微区分析,能够精确测定元素的种类、含量及其分布情况。该技术具有高空间分辨率与高分析精度的特点,为科研人员提供了强有力的成分分析手段。因此,EPMA成为电子显微分析中的重要工具之一。
Electron-Probe MicroAnalysis具体释义
Electron-Probe MicroAnalysis的英文发音
例句
- Moreover, the electrochemical corrosion features of the coatings are studied by electron-probe microanalysis.
- 用电子探针显微分析(EPMA)手段研究了镀层的电化学腐蚀特征。
- The correction programs for light elements quantitative electron-probe microanalysis have been performed.
- 完成了轻元素定量电子探针分析的修正程序。
- Oxidation resistance, wear and mechanical testing are carried out and the microstructures are observed by optical microscopy, electron-probe microanalysis, TEM and SEM.
- 利用金相技术、电子探针成分分析技术、TEM和SEM技术观察和分析了材料的微观结构。
- The solidification path of the alloy was also calculated. ( 2 ) With X-ray diffraction, scanning electron microscopy and electron-probe microanalysis, a part of phase relations in Ag-Si-Zr ternary system at 1023 K were investigated.
- 采用X射线衍射、扫描电镜和电子探针成分分析等方法,测定了Ag-Si-Zr三元系在1023K的部分相关系。
- Advances in Electron-Probe Microanalysis and their Applications
- 电子探针分析技术的新进展及其应用
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