CLI:累积泄漏指数
“累积泄漏指数”(Cumulative Leakage Index,缩写为CLI)是电子工程及相关学术领域中的一个常用术语,通常用于衡量设备或系统中泄漏情况的累积效应。为了便于书写和快速交流,专业人员普遍使用其缩写CLI来指代这一概念。
Cumulative Leakage Index具体释义
Cumulative Leakage Index的英文发音
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